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仿真電子系統設計指南(實踐篇):從半導體、分立組件到ADI集成電路的分析與實現
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仿真電子系統設計指南(實踐篇):從半導體、分立組件到ADI集成電路的分析與實現

作者: 何賓
出版社: 電子工業出版社
出版日期: 2017-10-01
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定价:   NT468.00
市场价格: RM84.13
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內容簡介

本書以NI公司的Multisim Workbench、EVIS和rogel的測試儀器為平台,從仿真、虛擬儀器和實際測試儀器等三方面對模擬電子技術進行分析,並且提供了一些擴展性的設計內容,力圖全面反映模擬電子設計技術的發展趨勢。


目錄

第1章 構建模擬電子系統的基本知識 1
1.1 電阻 1
1.1.1 軸向引線型電阻 1
1.1.2 電阻網絡 4
1.1.3 貼片式電阻組件的封裝 5
1.2 電容 6
1.2.1 功能 6
1.2.2 有極性電容 7
1.2.3 無極性電容 9
1.2.4 聚苯乙烯電容 9
1.2.5 真實的電容值 9
1.2.6 電容的寄生效應 10
1.2.7 寄生電容 13
1.2.8 不同類型電容比較 15
1.3 面包板 16
1.3.1 面包板結構和功能 16
1.3.2 寄生電容 18
第2 章 SPICE仿真工具 20
2.1 Multisim Live特性及其應用 20
2.1.1 登陸Multisim Live 20
2.1.2 Multisim Live設計流程 21
2.2 ADIsimPE仿真工具特性及應用 30
2.2.1 下載和安裝ADIsimPE仿真工具 30
2.2.2 ADIsimPE仿真工具基本設計流程 32
第3 章 測試儀器原理 38
3.1 數字示波器原理 38
3.1.1 信號的基本概念 38
3.1.2 示波器類型 41
3.1.3 數字示波器基本原理 41
3.1.4 性能參數 42
3.1.4 觸發方式 51
3.1.5 X-Y模式 58
3.2 信號發生器原理 58
3.2.1 信號發生器功能 58
3.2.2 信號發生器的類型 60
3.2.3 工作原理 60
3.3.4 性能參數 63
3.3 線性直流電源原理 70
3.3.1 工作原理 70
3.3.2 工作模式 71
3.3.2 性能參數 72
3.3.3 擴展應用 73
3.4 數字萬用表原理 74
3.4.1 工作原理 75
3.4.2 性能參數 75
3.5 頻譜分析儀原理 76
3.5.1 信號的時域和頻域表示 76
3.5.2 頻譜分析儀的用途 77
3.5.3 頻譜分析儀種類 78
3.5.4 性能參數 84
3.6 直流電子負載 87
第4 章 信號時域和頻率表示 90
4.1 實驗目的 90
4.2 實驗材料及儀器 90
4.3 MDO3054混合域示波器主要功能 90
4.3.1 常見按鈕和菜單 91
4.3.2 前面板菜單按鈕 91
4.3.3 頻譜分析控件操作面板 92
4.3.4 其他控制 92
4.3 實驗原理 94
4.3.1 設置任意函數發生器 94
4.3.2 正弦信號的時域分析 95
4.3.3 正弦信號的頻域分析 97
第5 章 二極管電路設計與驗證 103
5.1 二極管I/V曲線測量 103
5.1.1 實驗目的 103
5.1.2 實驗材料及儀器 103
5.1.3 電路設計原理 103
5.1.4 硬件測試電路 104
5.1.5 測試結果分析 106
5.2 半波整流電路設計和驗證 107
5.2.1 實驗目的 107
5.2.2 實驗材料及儀器 107
5.2.3 電路設計原理 107
5.2.4 硬件測試電路 108
5.2.5 測試結果分析 109
5.3 全波整流電路設計和驗證 110
5.3.1 實驗目的 110
5.3.2 實驗材料及儀器 110
5.3.3 電路設計原理 111
5.3.4 硬件測試電路 112
5.3.5 測試結果分析 113
5.4 橋式整流電路設計和驗證 113
5.4.1 實驗目的 113
5.4.2 實驗材料及儀器 114
5.4.3 電路設計原理 114
5.4.4 硬件測試電路 115
5.4.5 測試結果分析 116
5.5 限幅電路設計和驗證 117
5.5.1 實驗目的 117
5.5.2 實驗材料及儀器 117
5.5.3 電路設計原理 118
5.5.4 硬件測試電路 119
5.5.5 測試結果分析 120
5.6 交流耦合和直流恢復電路設計和驗證 122
5.6.1 實驗目的 122
5.6.2 實驗材料及儀器 122
5.6.3 電路設計原理 122
5.6.4 硬件測試電路 124
5.6.5 測試結果分析 125
5.7 可變衰減器設計和驗證 126
5.7.1 實驗目的 126
5.7.2 實驗材料及儀器 126
5.7.3 電路設計原理 126
5.7.4 硬件測試電路 128
5.7.5 測試結果分析 129
第6 章 雙極結型晶體管電路設計與驗證 131
6.1 BJT用作二極管 131
6.1.1 實驗目的 131
6.1.2 實驗材料及儀器 131
6.1.3 電路設計原理 131
6.1.4 硬件測試電路 133
6.1.5 測試結果分析 134
6.2 BJT輸出特性曲線測量 135
6.2.1 實驗目的 135
6.2.2 實驗材料及儀器 136
6.2.3 電路設計原理 136
6.2.4 階梯波生成方法 138
6.2.5 硬件測試電路 140
6.2.6 測試結果分析 142
6.3 BJT共射極放大電路設計和驗證 145
6.3.1 實驗目的 145
6.3.2 實驗材料及儀器 145
6.3.3 電路設計原理 145
6.3.4 硬件測試電路 146
6.3.5 測試結果分析 148
6.4 BJT鏡像電流源設計和驗證 148
6.4.1 實驗目的 149
6.4.2 實驗材料及儀器 149
6.4.3 電路設計原理 149
6.4.4 硬件測試電路 150
6.6.4 測試結果分析 151
6.5 基極電流補償鏡像電流源 152
6.5.1 實驗目的 152
6.5.2 實驗材料及儀器 152
6.5.3 電路設計原理 152
6.5.4 硬件測試電路 153
6.5.5 測試結果分析 155
6.6 零增益放大器設計和驗證 156
6.6.1 實驗目的 156
6.6.2 實驗材料及儀器 156
6.6.3 電路設計原理 156
6.6.4 硬件測試電路 158
6.6.5 測試結果分析 159
6.7 穩壓電流源設計和驗證 160
6.7.1 實驗目的 161
6.7.2 實驗材料及儀器 161
6.7.3 電路設計原理 161
6.7.4 硬件測試電路 162
6.7.5 測試結果分析 163
6.8 並聯整流器設計和驗證 164
6.8.1 實驗目的 164
6.8.2 實驗材料及儀器 164
6.8.3 電路設計原理 164
6.8.4 硬件測試電路 166
6.8.5 測試結果分析 167
6.9 射極跟隨器設計和驗證 169
6.9.1 實驗目的 169
6.9.2 實驗材料及儀器 169
6.9.3 電路設計原理 169
6.9.4 硬件測試電路 170
6.9.5 測試結果分析 171
6.10 差模輸入差分放大器電路設計和驗證 172
6.10.1 實驗目的 172
6.10.2 實驗材料及儀器 173
6.10.3 電路設計原理 173
6.10.4 硬件測試電路 175
6.10.5 測試結果分析 177
6.11 共模輸入差分放大器電路設計和驗證 178
6.11.1 實驗目的 178
6.11.2 實驗材料及儀器 178
6.11.3 電路設計原理 179
6.11.4 硬件測試電路 179
6.11.5 測試結果分析 181
第7 章 金屬氧化物場效應晶體管電路設計與驗證 182
7.1 MOS用作二極管電路測試 182
7.1.1 實驗目的 182
7.1.2 實驗材料及儀器 182
7.1.3 電路設計原理 182
7.1.4 硬件測試電路 184
7.1.5 測試結果分析 185
7.2 MOS輸出曲線測量 186
7.2.1 實驗目的 187
7.2.2 實驗材料及儀器 187
7.2.3 電路設計原理 187
7.2.4 硬件測試電路 188
7.2.4 測試結果分析 190
7.3 MOS轉移特性曲線測量 192
7.3.1 實驗目的 192
7.3.2 實驗材料及儀器 192
7.3.3 電路設計原理 193
7.3.4 硬件測試電路 195
7.3.5 測試結果分析 196
7.4 MOS共源極放大電路設計和驗證 200
7.4.1 實驗目的 201
7.4.2 實驗材料及儀器 201
7.4.3 電路設計原理 201
7.4.4 硬件測試電路 202
7.4.5 測試結果分析 203
7.5 MOS鏡像電流源電路設計和驗證 204
7.5.1 實驗目的 205
7.5.2 實驗材料及儀器 205
7.5.3 電路設計原理 205
7.5.4 硬件測試電路 206
7.5.5 測試結果分析 207
7.6 零增益放大器電路設計和驗證 208
7.6.1 實驗目的 208
7.6.2 實驗材料及儀器 208
7.6.3 電路設計原理 209
7.6.4 硬件測試電路 210
7.6.5 測試結果分析 211
7.7 源極跟隨器電路設計和驗證 212
7.7.1 實驗目的 212
7.7.2 實驗材料及儀器 213
7.7.3 電路設計原理 213
7.7.4 硬件測試電路 214
7.7.5 測試結果分析 215
7.8 差模輸入差分放大器電路設計和驗證 216
7.8.1 實驗目的 216
7.8.2 實驗材料及儀器 216
7.8.3 電路設計原理 217
7.8.4 硬件測試電路 218
7.8.5 測試結果分析 219
7.9 共模輸入差分放大器電路設計和驗證 220
7.9.1 實驗目的 220
7.9.2 實驗材料及儀器 221
7.9.3 電路設計原理 221
7.9.4 硬件測試電路 221
7.9.5 測試結果分析 223
第8 章 集成運算放大器電路設計與驗證 224
8.1 同相放大器電路設計和驗證 224
8.1.1 實驗目的 224
8.1.2 實驗材料及儀器 224
8.1.3 電路設計原理 224
8.1.4 硬件測試電路 226
8.1.5 測試結果分析 227
8.2 反相放大器電路設計和驗證 227
8.2.1 實驗目的 228
8.2.2 實驗材料及儀器 228
8.2.3 電路設計原理 228
8.2.4 硬件測試電路 229
8.2.5 測試結果分析 230
8.3 電壓跟隨器電路設計和驗證 231
8.3.1 實驗目的 231
8.3.2 實驗材料及儀器 231
8.3.3 電路設計原理 232
8.3.4 硬件測試電路 233
8.3.5 測試結果分析 234
8.4 加法器電路設計和驗證 234
8.4.1 實驗目的 234
8.4.2 實驗材料及儀器 235
8.4.3 電路設計原理 235
8.4.4 硬件測試電路 236
8.4.5 測試結果分析 237
8.5 積分器電路設計和驗證 238
8.5.1 實驗目的 238
8.5.2 實驗材料及儀器 238
8.5.3 電路設計原理 239
8.5.4 硬件測試電路 240
8.5.5 測試結果分析 241
8.6 微分器電路設計和驗證 242
8.6.1 實驗目的 242
8.6.2 實驗材料及儀器 242
8.6.3 電路設計原理 242
8.6.4 硬件測試電路 243
8.6.5 測試結果分析 244
8.7 半波整流器電路設計和驗證 245
8.7.1 實驗目的 245
8.7.2 實驗材料及儀器 245
8.7.3 電路設計原理 246
8.7.4 硬件測試電路 247
8.7.5 測試結果分析 248
8.8 全波整流器電路設計和驗證 249
8.8.1 實驗目的 249
8.8.2 實驗材料及儀器 249
8.8.3 電路設計原理 249
8.8.4 硬件測試電路 251
8.8.5 測試結果分析 252
8.9 單電源同相放大器電路設計和驗證 253
8.9.1 實驗目的 253
8.9.2 實驗材料及儀器 253
8.9.3 電路設計原理 253
8.9.4 硬件測試電路 254
8.9.5 測試結果分析 256
第9 章 集成差動放大器電路設計與驗證 258
9.1 應變力測量電路設計和驗證 258
9.1.1 實驗目的 258
9.1.2 實驗材料及儀器 258
9.1.3 應變片原理 259
9.1.4 電路設計原理 260
9.1.5 硬件測試電路 262
9.1.6 測試結果分析 263
9.2 熱電阻測量電路設計和驗證 264
9.2.1 實驗目的 265
9.2.2 實驗材料及儀器 265
9.2.3 溫度傳感器原理 265
9.2.4 電路設計原理 266
9.2.5 硬件測試電路 266
9.2.6 測試結果分析 267
第10 章 有源濾波器電路設計與驗證 269
10.1 一階有源低通濾波器電路設計和驗證 269
10.1.1 實驗目的 269
10.1.2 實驗材料及儀器 269
10.1.3 電路設計原理 270
10.1.4 硬件測試電路 272
10.1.5 測試結果分析 273
10.2 一階有源高通濾波器電路設計和驗證 276
10.2.1 實驗目的 276
10.2.2 實驗材料及儀器 277
10.2.3 電路設計原理 277
10.2.4 硬件測試電路 279
10.2.5 測試結果分析 280
10.3 一階有源帶通濾波器電路設計和驗證 283
10.3.1 實驗目的 283
10.3.2 實驗材料及儀器 284
10.3.3 電路設計原理 284
10.3.4 硬件測試電路 286
10.3.5 測試結果分析 288
10.4 一階有源帶阻濾波器電路設計和驗證 294
10.4.1 實驗目的 294
10.4.2 實驗材料及儀器 294
10.4.3 電路設計原理 295
10.4.4 硬件測試電路 297
10.4.5 測試結果分析 298
10.5 二階有源低通濾波器電路設計和驗證 303
10.5.1 實驗目的 303
10.5.2 實驗材料及儀器 303
10.5.3 電路設計原理 304
10.5.4 硬件測試電路 305
10.5.5 測試結果分析 307
第11 章 功率放大器電路設計與驗證 311
11.1 B類功率放大器電路設計與驗證 311
11.1.1 實驗目的 311
11.1.2 實驗材料及儀器 311
11.1.3 電路設計原理 311
11.1.4 硬件測試電路 313
11.1.5 測試結果分析 314
11.2 AB類功率輸出放大器電路設計與驗證(一) 315
11.2.1 實驗目的 316
11.2.2 實驗材料及儀器 316
11.2.3 電路設計原理 316
11.2.4 硬件測試電路 318
11.2.5 測試結果分析 319
11.3 AB類功率輸出放大器電路設計與驗證(二) 320
11.3.1 實驗目的 320
11.3.2 實驗材料及儀器 320
11.3.3 電路設計原理 320
11.3.4 硬件測試電路 322
11.3.5 測試結果分析 323
第12 章 振盪器電路設計與驗證 325
12.1 移相振盪器電路設計和驗證 325
12.1.1 實驗目的 325
12.1.2 實驗材料及儀器 325
12.1.3 電路設計原理 325
12.1.4 硬件測試電路 327
12.1.5 測試結果分析 329
12.2 文氏橋振盪器電路設計和驗證 329
12.2.1 實驗目的 330
12.2.2 實驗材料及儀器 330
12.2.3 電路設計原理 330
12.2.4 硬件測試電路 332
12.2.5 測試結果分析 334
第13 章 電源管理器電路設計與驗證 335
13.1 線性電源電路設計和驗證 335
13.1.1 實驗目的 335
13.1.2 實驗材料及儀器 335
13.1.3 硬件測試電路 336
13.1.5 測試結果分析 337
13.2 降壓型開關電源設計與驗證 339
13.2.1 實驗目的 339
13.2.2 實驗材料和儀器 340
13.2.3 電路設計原理 340
13.2.4 硬件測試電路 345
13.2.5 測試結果分析 346
13.3 升壓型開關電源設計與驗證 353
13.3.1 實驗目的 353
13.3.2 實驗材料和儀器 353
13.3.3 電路設計原理 354
13.3.4 硬件測試電路 355
13.3.5 測試結果分析 356
第14 章 模擬電路自動測試系統的構建 362
14.1 實驗目的 362
14.2 實驗材料及儀器 362
14.3 自動測試系統構建原理及實現 362
14.3.1 下載並安裝軟件 362
14.3.2 測試儀器與上位機連接 365
14.3.3 使用TekVISA軟件工具 366
14.3.4 使用arbexpress軟件工具 368
14.3.5 使用OpenChoice軟件工具