会员   密码 您忘记密码了吗?
1,505,013 本书已上架      购物流程 | 常见问题 | 联系我们 | 关于我们 | 用户协议

有店 App


当前分类

浏览历史

当前位置: 首页 > 专业/教科书/政府出版品 > 工程类 > 專利侵害鑑定理論(增修版)(限台灣)
專利侵害鑑定理論(增修版)(限台灣)
上一张
下一张
prev next

專利侵害鑑定理論(增修版)(限台灣)

作者: 洪瑞章
出版社: 經濟部智慧財產局
出版日期: 2008-03-01
商品库存: 点击查询库存
以上库存为海外库存属流动性。
可选择“空运”或“海运”配送,空运费每件商品是RM14。
配送时间:空运约8~12个工作天,海运约30个工作天。
(以上预计配送时间不包括出版社库存不足需调货及尚未出版的新品)
定价:   NT200.00
市场价格: RM35.96
本店售价: RM32.00
购买数量:
collect Add to cart Add booking
详细介绍 商品属性 商品标记
內容簡介

本書有系統地對於專利侵害鑑定的相關原則及理論加以介紹,並進一步探討現行專利侵害鑑定實務可能存在之問題,讓學習者不僅更清楚認識專利侵害鑑定的各種原則,並瞭解其背後的原理與精神,俾於個案中正確顯現客觀事實。


目錄